联系电话:
400-168-4191
主机型号
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编号 |
名称 |
描述 |
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|---|---|---|---|
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6433D |
光波元件分析仪 |
频率范围:10MHz～26.5GHz |
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6433F |
光波元件分析仪 |
频率范围:10MHz～43.5GHz |
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6433H |
光波元件分析仪 |
频率范围:10MHz～50GHz |
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6433L |
光波元件分析仪 |
频率范围:10MHz～67GHz |
选件型号
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编号 |
名称 |
描述 |
选配 |
|---|---|---|---|
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6433L-405 |
四端口T型偏置器 |
内部配置4个T型偏置器,用于端口输出直流偏置电压，必选6433L-400+6433L-401+6433L-404，与6433L-403不可同时选配。 |
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6433L-404 |
四端口可配置测试装置 |
对四端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线，可独立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收机，必选6433L-400。 |
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6433L-402 |
有源互调失真测量 |
用于有源互调失真信号测量,必选6433L-400+6433L-404+6433L-S20。 |
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6433L-401 |
四端口程控步进衰减器 |
配置源通路4个50dB程控步进衰减器，接收机通路4个50dB程控步进衰减器,必选6433L-400+6433L-404。 |
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6433L-400 |
四端口测量 |
双源激励四端口光波元件分析仪配置，频率范围10MHz ～67GHz。 |
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6433L-205 |
二端口T型偏置器 |
内部配置2个T型偏置器，用于端口输出直流偏置电压，必选6433L-201+6433L-204，与6433L-203不可同时选配。 |
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6433L-204 |
二端口可配置测试装置 |
对二端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线，可独立使用A、B、R1、R2 接收机。 |
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6433L-201 |
二端口程控步进衰减器 |
配置源通路2个50dB程控步进衰减器，接收机通路2个50dB程控步进衰减器,必选6433L-204。 |
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6433L-023 |
混频器矢量测量功能 |
用于混频器矢量参数测量，二端口必选6433L-204+6433L-S20，四端口必选6433L-404+6433L-S20。 |
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6433L-012 |
多功能光波分析装置 |
频率范围：10MHz~67GHz，用于对光波的光电/电光模块测试的数据校验。 |
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6433L-011 |
OE标准件 |
频率范围:10MHz～67GHz,用于对光电测试模块的数据校验。 |
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6433L-008 |
脉冲测量 |
用于脉冲状态下S参数测量。 |
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6433H-405 |
四端口T型偏置器 |
内部配置4个T型偏置器,用于端口输出直流偏置电压，必选6433H-400+6433H-401+6433H-404，与6433H-403不可同时选配。 |
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6433H-404 |
四端口可配置测试装置 |
对四端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线，可独立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收机，必选6433H-400。 |
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6433H-402 |
有源互调失真测量 |
用于有源互调失真信号测量,必选6433H-400+6433H-404+6433H-S20。 |
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6433H-401 |
四端口程控步进衰减器 |
配置源通路4个60dB程控步进衰减器，接收机通路4个35dB程控步进衰减器,必选6433H-400+6433H-404。 |
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6433H-400 |
四端口测量 |
双源激励四端口光波元件分析仪配置，频率范围10MHz ～50GHz。 |
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6433H-205 |
二端口T型偏置器 |
内部配置2个T型偏置器，用于端口输出直流偏置电压，必选6433H-201+6433H-204，与6433H-203不可同时选配。 |
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6433H-204 |
二端口可配置测试装置 |
对二端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线，可独立使用A、B、R1、R2 接收机。 |
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6433H-201 |
二端口程控步进衰减器 |
配置源通路2个60dB程控步进衰减器，接收机通路2个35dB程控步进衰减器,必选6433H-204。 |
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6433H-023 |
混频器矢量测量功能 |
用于混频器矢量参数测量，二端口必选6433H-204+6433H-S20，四端口必选6433H-404+6433H-S20。 |
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6433H-012 |
多功能光波分析装置 |
频率范围：10MHz~50GHz，用于对光波的光电/电光模块测试的数据校验。 |
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6433H-011 |
OE标准件 |
频率范围:10MHz～50GHz,用于对光电测试模块的数据校验。 |
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6433H-008 |
脉冲测量 |
用于脉冲状态下S参数测量。 |
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6433H-003 |
噪声系数测量 |
用于S参数、噪声系数和噪声参数的精确测量，二端口必选6433H-201+6433H-204，四端口必选6433H-401+6433H-404。 |
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6433F-405 |
四端口T型偏置器 |
内部配置4个T型偏置器,用于端口输出直流偏置电压，必选6433F-400+6433F-401+6433F-404，与6433D-403不可同时选配。 |
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6433F-404 |
四端口可配置测试装置 |
对四端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线，可独立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收机，必选6433F-400。 |
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6433F-402 |
有源互调失真测量 |
用于有源互调失真信号测量,必选6433F-400+6433F-404+6433F-S20。 |
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6433F-401 |
四端口程控步进衰减器 |
配置源通路4个60dB程控步进衰减器，接收机通路4个35dB程控步进衰减器,必选6433F-400+6433F-404。 |
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6433F-400 |
四端口测量 |
双源激励四端口光波元件分析仪配置，频率范围10MHz ～44GHz。 |
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6433F-205 |
二端口T型偏置器 |
内部配置2个T型偏置器，用于端口输出直流偏置电压，必选6433F-201+6433F-204，与6433F-203不可同时选配。 |
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6433F-204 |
二端口可配置测试装置 |
对二端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线，可独立使用A、B、R1、R2 接收机。 |
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6433F-201 |
二端口程控步进衰减器 |
配置源通路2个60dB程控步进衰减器，接收机通路2个35dB程控步进衰减器,必选6433F-204。 |
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6433F-023 |
混频器矢量测量功能 |
用于混频器矢量参数测量，二端口必选6433F-204+6433F-S20，四端口必选6433F-404+6433F-S20。 |
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6433F-012 |
多功能光波分析装置 |
频率范围：10MHz~44GHz，用于对光波的光电/电光模块测试的数据校验。 |
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6433F-011 |
OE标准件 |
频率范围:10MHz～44GHz,用于对光电测试模块的数据校验。 |
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6433F-008 |
脉冲测量 |
用于脉冲状态下S参数测量。 |
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6433F-003 |
噪声系数测量 |
用于S参数、噪声系数和噪声参数的精确测量，二端口必选6433F-201+6433F-204，四端口必选6433F-401+6433F-404。 |
|
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6433D-405 |
四端口T型偏置器 |
内部配置4个T型偏置器用于端口输出直流偏置电压，必选6433D-400+6433D-401+6433D-404，与6433D-403不可同时选配。 |
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6433D-404 |
四端口可配置测试装置 |
对四端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线，可独立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收机，必选6433D-400。 |
|
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6433D-402 |
有源互调失真测量 |
用于有源互调失真信号测量,必选6433D-400+6433D-404+6433D-S20。 |
|
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6433D-401 |
四端口程控步进衰减器 |
配置源通路4个70dB程控步进衰减器，接收机通路4个35dB程控步进衰减器,必选6433D-400+6433D-404。 |
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6433D-400 |
四端口测量 |
双源激励四端口光波元件分析仪配置，频率范围10MHz ～20GHz。 |
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6433D-205 |
二端口T型偏置器 |
内部配置2个T型偏置器，用于端口输出直流偏置电压，必选6433D-201+6433D-204，与6433D-203不可同时选配。 |
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6433D-204 |
二端口可配置测试装置 |
对二端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线，可独立使用A、B、R1、R2接收机。 |
|
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6433D-201 |
二端口程控步进衰减器 |
配置源通路2个70dB程控步进衰减器，接收机通路2个35dB程控步进衰减器，必选6433D-204。 |
|
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6433D-023 |
混频器矢量测量功能 |
用于混频器矢量参数测量，二端口必选6433D-204+6433D-S20，四端口必选6433D-404+6433D-S20。 |
|
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6433D-012 |
多功能光波分析装置 |
频率范围：10MHz~20GHz，用于对光波的光电/电光模块测试的数据校验。 |
|
|
6433D-008 |
脉冲测量 |
用于脉冲状态下S参数测量。 |
|
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6433D-003 |
噪声系数测量 |
用于S参数、噪声系数和噪声参数的精确测量，二端口必选6433D-201+6433D-204，四端口必选6433D-401+6433D-404。 |
软件型号
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编号 |
名称 |
描述 |
选配 |
|---|---|---|---|
|
6433L-EWT1 |
保修期以外延长保修1年 |
保修期以外延长保修1年，2年延保可选2项，以此类推，服务不含校准，仅含单程货品运费。 |
|
|
6433L-S30 |
频谱分析功能 |
用于提供多通道频谱测试功能。 |
|
|
6433L-S28 |
相位扫描测量功能 |
用于相位扫描测量，必选6433L-400。 |
|
|
6433L-S26 |
增益压缩测量功能 |
用于放大器等有源器件的增益压缩测量。 |
|
|
6433L-S24 |
嵌入式本振变频器测量功能 |
用于内嵌本振变频器测量，二端口必选6433L-204+6433L-S20,四端口必选6433L-404+6433L-S20，必选6433L-S22或6433L-023。 |
|
|
6433L-S22 |
混频器标量测量功能 |
用于混频器标量参数测量，必选6433L-S20。 |
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|
6433L-S20 |
频偏测量功能 |
用于频率偏移测量。 |
|
|
6433L-S18 |
快速陆续在波扫描功能 |
使用FIFO 缓冲法，即时读取数据。 |
|
|
6433L-S16 |
真实差分测量功能 |
用于真实差模、共模激励平衡参数测量,必选6433L-400+6433L-404+6433L-S28。 |
|
|
6433L-S11 |
高级时域分析 |
用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等，购买6433L-S11赠送6433L-S10。 |
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|
6433L-S10 |
高级时域分析 |
用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等，购买6433L-S11赠送6433L-S10。 |
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|
6433L-S07 |
自动夹具移除功能 |
用于单端及平衡器件测量夹具自动测试及移除 |
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6433L-S05 |
S参数信号完整性分析功能 |
用于分析系统的频域、时域TDR 和串扰等信号完整性特性，可自动将图形曲线转换成测试报告。 |
|
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6433H-EWT1 |
保修期以外延长保修1年 |
保修期以外延长保修1年，2年延保可选2项，以此类推，服务不含校准，仅含单程货品运费。 |
|
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6433H-S30 |
频谱分析功能 |
用于提供多通道频谱测试功能。 |
|
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6433H-S28 |
相位扫描测量功能 |
用于相位扫描测量，必选6433H-400。 |
|
|
6433H-S26 |
增益压缩测量功能 |
用于放大器等有源器件的增益压缩测量。 |
|
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6433H-S24 |
嵌入式本振变频器测量功能 |
用于内嵌本振变频器测量，二端口必选6433H-204+6433H-S20,四端口必选6433H-404+6433H-S20，必选6433H-S22或6433H-023。 |
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|
6433H-S22 |
混频器标量测量功能 |
用于混频器标量参数测量，必选6433H-S20。 |
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6433H-S20 |
频偏测量功能 |
用于频率偏移测量。 |
|
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6433H-S18 |
快速陆续在波扫描功能 |
使用FIFO 缓冲法，即时读取数据。 |
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6433H-S16 |
真实差分测量功能 |
用于真实差模、共模激励平衡参数测量,必选6433H-400+6433H-404+6433H-S28。 |
|
|
6433H-S11 |
高级时域分析 |
用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等，购买6433H-S11赠送6433H-S10。 |
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|
6433H-S10 |
时域测量 |
用于时域测量，可确定器件、夹具或电缆中不陆续在位置并进行分析 |
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6433H-S07 |
自动夹具移除功能 |
用于单端及平衡器件测量夹具自动测试及移除 |
|
|
6433H-S05 |
S参数信号完整性分析功能 |
用于分析系统的频域、时域TDR 和串扰等信号完整性特性，可自动将图形曲线转换成测试报告。 |
|
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6433F-EWT1 |
保修期以外延长保修1年 |
保修期以外延长保修1年，2年延保可选2项，以此类推，服务不含校准，仅含单程货品运费。 |
|
|
6433F-S30 |
频谱分析功能 |
用于提供多通道频谱测试功能。 |
|
|
6433F-S28 |
相位扫描测量功能 |
用于相位扫描测量，必选6433F-400。 |
|
|
6433F-S26 |
增益压缩测量功能 |
用于放大器等有源器件的增益压缩测量。 |
|
|
6433F-S24 |
嵌入式本振变频器测量功能 |
用于内嵌本振变频器测量，二端口必选6433F-204+6433F-S20,四端口必选6433F-404+6433F-S20，必选6433F-S22或6433F-023。 |
|
|
6433F-S22 |
混频器标量测量功能 |
用于混频器标量参数测量，必选6433F-S20。 |
|
|
6433F-S20 |
频偏测量功能 |
用于频率偏移测量。 |
|
|
6433F-S18 |
快速陆续在波扫描功能 |
使用FIFO 缓冲法，即时读取数据。 |
|
|
6433F-S16 |
真实差分测量功能 |
用于真实差模、共模激励平衡参数测量,必选6433F-400+6433F-404+6433F-S28。 |
|
|
6433F-S11 |
高级时域分析功能 |
用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等，购买6433F-S11赠送6433F-S10。 |
|
|
6433F-S10 |
时域测量功能 |
用于时域测量，可确定器件、夹具或电缆中不陆续在位置并进行分析 |
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|
6433F-S07 |
S参数信号完整性分析功能 |
用于分析系统的频域、时域TDR 和串扰等信号完整性特性，可自动将图形曲线转换成测试报告。 |
|
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6433F-S05 |
四端口T型偏置器 |
内部配置4个T型偏置器,用于端口输出直流偏置电压，必选6433F-400+6433F-401+6433F-404，与6433D-403不可同时选配。 |
|
|
6433D-EWT1 |
保修期以外延长保修1年 |
保修期以外延长保修1年，2年延保可选2项，以此类推，服务不含校准，仅含单程货品运费。 |
|
|
6433D-S30 |
频谱分析功能 |
用于提供多通道频谱测试功能。 |
|
|
6433D-S28 |
相位扫描测量功能 |
用于相位扫描测量，必选6433D-400。 |
|
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6433D-S26 |
增益压缩测量功能 |
用于放大器等有源器件的增益压缩测量。 |
|
|
6433D-S24 |
嵌入式本振变频器测量功能 |
用于内嵌本振变频器测量，二端口必选6433D-204+6433D-S20,四端口必选6433D-404+6433D-S20，必选6433D-S22或6433D-023。 |
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6433D-S22 |
混频器标量测量功能 |
用于混频器标量参数测量，必选6433D-S20。 |
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6433D-S20 |
频偏测量功能 |
用于频率偏移测量。 |
|
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6433D-S18 |
快速陆续在波扫描功能 |
使用FIFO 缓冲法，即时读取数据。 |
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6433D-S16 |
真实差分测量功能 |
用于真实差模、共模激励平衡参数测量,必选6433D-400+6433D-404+6433D-S28。 |
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6433D-S11 |
高级时域分析功能 |
用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等，购买6433D-S11赠送6433D-S10。 |
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|
6433D-S10 |
时域测量功能 |
用于时域测量，可确定器件、夹具或电缆中不陆续在位置并进行分析。 |
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6433D-S07 |
自动夹具移除功能 |
用于单端及平衡器件测量夹具自动测试及移除。 |
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6433D-S05 |
S参数信号完整性分析功能 |
用于分析系统的频域、时域TDR 和串扰等信号完整性特性，可自动将图形曲线转换成测试报告。 |
